GemLab
Gemmologische Untersuchungen
Bestimmung der Zellparameter (Röntgen) an Einkristallen, Röntgenbeugungsbilder an polykristallinen Proben am CCD-Diffraktometer, zerstörungsfrei.
Kontakt: Gerald Giester
Quantitative chemische Analyse mittels RFA-Handspektrometer TRACER IV-SD. Zerstörungsfreie Untersuchungen von Einkristallen, polykristallinen Proben, Gläsern und Metallen.
Kontakt: Gerald Giester
Edelstein- und Einschlussfotografie.
Kontakt: Gerald Giester
Konfokale Micro-Raman-Spektroskopie, UV-Lumineszenzmikroskopie, Photolumineszenz- Spektroskopie (PL).
Kontakt: Lutz Nasdala, Eugen Libowitzky
Korund-Kristall aus Sri Lanka, mit Spinell-Kristall-Einschluss (roter Pfeil) im Zentrum. Das kleine Zusatzbild (Bildbreite ca. 2 mm) ist eine Detailvergrößerung, das den Spinell zeigt, welcher sich 2 mm unter der Korund-Oberfläche befindet (links), Raman-shift (rechts)
Korund-Kristall aus Sri Lanka, mit Spinell-Kristall-Einschluss
Raman-shift Korund-Kristall
Natürlicher Smaragd-Kristall in Glimmerschiefer aus dem Habachtal, Österreichische Alpen, und 2 geschliffene Steine. Bildbreite: 2.5 cm. Die Klarheit des rechten Steins mit Cabochonschliff wurde durch Behandlung mit Zedernholz-Öl erzielt (links), Raman-shift (rechts)
Natürlicher Smaragd-Kristall in Glimmerschiefer
Raman-shift natürlicher Smaragd-Kristall
Alle Abbildungen aus: Nasdala, L., Banerjee, A., Häger, T., Hofmeister, W. (2001): Laser-Raman micro-spectroscopy in mineralogical research. - Microscopy and Analysis, Europ. ed. 70: 7-9.
Spektroskopische Untersuchungen im UV, VIS und IR-Bereich, z. T. mittels Reflexionstechniken.
Kontakt: Manfred Wildner, Eugen Libowitzky
Hydrothermal synthetisierter Amethyst (links) mit IR Spektrum im OH-Streckschwingungsbereich (rechts)
synthetisierter Amethyst mit IR Spektrum
Charakterisierung von submikroskopischen wasserhaltigen Mineraleinschlüssen: IR Spektren von Saphiren im OH Streckschwingungsbereich, aufgenommen in getrübten Kristallbereichen;
a) OH Banden von Kaolinit, b) OH Banden von Diaspor
IR Spektren von Saphiren im OH Streckschwingungsbereich
KL-Bilder und Spektroskopie, EDX Micro-Analytik am Rasterelektronenmikroskop, optische Einschlussmikroskopie.
Kontakt: Lutz Nasdala, Eugen Libowitzky, Manfred Wildner
Röntgenbeugung an Pulvern (nicht zerstörungsfrei), Perlenuntersuchungen (zerstörungsfrei), Reflexionsmessungen im sichtbaren Bereich.
Kontakt: Christian Lengauer